[发明专利]I-V二阶微分测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种I-V二阶微分测量方法及装置。该装置包括直流信号源、函数发生器、具有分压作用的交直流加法器、前置放大器，锁相放大器及环境条件控制系统；该方法是：将选定频率的交流小信号通过交直流加法器与直流偏压叠加，共同作用于测试样品，含有测试样品信息的信号经前置放大器放大转换成电压信号，由锁相测量倍频信号电压。本发明的优点至少在于：（1）交直流加法器交流通路里含有分压器；（2）交流信号由函数发生器提供，精度较高，并经过分压后幅度很小，降低了其对直流偏置信号的影响，提高了信噪比；（3）直接测量I-V二阶微分随外界条件的变化曲线，方法简单，结果精确直观，并且对测试者电路设计水平要求不高。

主权项

一种I‑V二阶微分测量方法，其特征在于，该方法为：将具有选定频率的交流信号通过具有分压作用的交直流加法器分压后，再与直流偏压叠加，并共同作用于测试样品，获得含有测试样品信息的信号，该含有测试样品信息的信号经前置放大器放大转换成电压信号，并通过锁相放大器改变参考通道的频率，由锁相放大器测量该倍频信号电压，从而获得二次谐波的有效信号电压，也就是I‑V二阶微分的有效信号。