[发明专利]位置姿势测量设备和位置姿势测量方法有效
| 申请号： | 201110225191.8 | 申请日： | 2011-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN102410832A | 公开（公告）日： | 2012-04-11 |
| 发明（设计）人： | 小林一彦;内山晋二 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01C11/00 | 分类号： | G01C11/00;G01C11/04 |
| 代理公司： | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人： | 魏启学 |
| 地址： | 日本东京都大*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及位置姿势测量设备和位置姿势测量方法。该位置姿势测量设备包括：距离信息获得单元，用于获得摄像单元所拍摄的对象物体的距离信息；灰度图像获得单元，用于获得对象物体的灰度图像；第一位置姿势估计单元，用于基于距离信息和三维形状模型的信息，来估计对象物体的位置和姿势；第二位置姿势估计单元，用于基于所述灰度图像的几何特征和通过将三维形状模型的信息投影在所述灰度图像上所获得的投影信息，来估计对象物体的位置和姿势；以及判断单元，用于基于第一估计值和第二估计值，来判断是否需要校准获得所述距离信息时所使用的参数。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 姿势 测量 设备 测量方法 | ||
【主权项】：
一种位置姿势测量设备，包括：距离信息获得单元，用于获得摄像单元所拍摄的对象物体的距离信息；灰度图像获得单元，用于获得所述摄像单元所拍摄的所述对象物体的灰度图像；第一位置姿势估计单元，用于基于所述距离信息和所述对象物体的三维形状模型的信息，来估计表示所述对象物体的位置和姿势的第一估计值；第二位置姿势估计单元，用于基于所述灰度图像的几何特征和通过将所述对象物体的三维形状模型的信息投影在所述灰度图像上所获得的投影信息，来估计表示所述对象物体的位置和姿势的第二估计值；以及判断单元，用于基于所述第一位置姿势估计单元估计出的所述第一估计值和所述第二位置姿势估计单元估计出的所述第二估计值这两者，来判断是否需要校准获得所述距离信息时所使用的参数。
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