[发明专利]不同深度腔体的制造方法无效

专利信息
申请号: 201110223477.2 申请日: 2011-08-05
公开(公告)号: CN102328899A 公开(公告)日: 2012-01-25
发明(设计)人: 张挺;郑晨焱;张艳红;张超;谢志峰;邵凯 申请(专利权)人: 上海先进半导体制造股份有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈亮
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种不同深度腔体的制造方法,包括:提供基底,其划分为多个区域;在基底上形成基底保护层;在基底保护层上形成多个不同尺寸和/或不同形状的窗口;刻蚀基底,在基底中的各个区域分别形成不同尺寸和/或不同深度的凹槽;在基底保护层的表面和凹槽的侧壁与底部淀积隔离层;去除基底保护层表面和凹槽底部的隔离层,在凹槽的侧壁残留的隔离层形成侧壁保护层;继续刻蚀凹槽,在各个区域分别形成不同深度的深槽;湿法腐蚀深槽,在多个区域的基底内部分别形成具有不同深度的腔体。本发明不需要添加额外的工艺步骤和光刻掩膜,就能够实现不同深度和高度的腔体,具有明显的成本竞争优势,尤其适合高集成度的复合传感器的制造。
搜索关键词: 不同 深度 制造 方法
【主权项】:
一种不同深度腔体的制造方法,包括步骤:提供基底,所述基底按照形成腔体的不同深度被划分为多个区域;在所述基底上形成基底保护层;在所述基底保护层上形成多个不同尺寸和/或不同形状的窗口,直至露出下方的基底;以所述基底保护层为掩模,刻蚀所述基底,在所述基底中的各个区域分别形成不同尺寸和/或不同深度的凹槽;在所述基底保护层的表面和所述凹槽的侧壁与底部淀积隔离层;去除所述基底保护层表面和所述凹槽底部的隔离层,在所述凹槽的侧壁保留的所述隔离层形成侧壁保护层;以所述基底保护层和所述侧壁保护层为掩模,继续刻蚀所述凹槽,在各个区域分别形成不同深度的深槽;采用湿法腐蚀法腐蚀所述深槽,在所述多个区域的基底内部分别形成不同区域具有不同深度的腔体。
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