[发明专利]镜头品质检测方法无效
| 申请号： | 201110185396.8 | 申请日： | 2011-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN102865998A | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 左伟宗 | 申请（专利权）人： | 奇景光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种镜头品质的检测方法。该检测方法适于对至少一晶片级透镜模块进行光学检测，其至少包括下列步骤。首先，在一承靠板材上形成至少一贯孔。之后，在承靠板材上配置一透光平板，且透光平板覆盖贯孔，以对应地形成容置空间。然后，在容置空间内容置晶片级透镜模块。接着，提供一图样光束至透光平板，其中图样光束适于通过透光平板进入贯孔内而传递至晶片级透镜模块。 | ||
| 搜索关键词： | 镜头 品质 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种镜头品质检测方法，适于对至少一晶片级透镜模块进行光学检测，包括：在一承靠板材上形成至少一贯孔；在该承靠板材上配置一透光平板，且该透光平板覆盖该至少一贯孔，以形成至少一容置空间；在该至少一容置空间内分别容置该至少一晶片级透镜模块；以及提供一图样光束至该透光平板，其中该图样光束适于通过该透光平板进入该至少一贯孔内而传递至该至少一晶片级透镜模块。
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