[发明专利]源复用测试方法无效
申请号: | 201110127116.8 | 申请日: | 2011-05-17 |
公开(公告)号: | CN102288898A | 公开(公告)日: | 2011-12-21 |
发明(设计)人: | 江鑫祯;顾良波;祁建华;徐惠 | 申请(专利权)人: | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明的源复用测试方法包括以下步骤:控制继电器,使电源从其对应的至少两个待测集成电路中选择出一个待测集成电路,并与该被选择的待测集成电路导通;对该被选择的待测集成电路进行本次参数项目的测试,并对测试结果进行统计;切换继电器,重复上述步骤,直至电源所对应的所有待测集成电路本次参数项目测试完毕。本发明的源复用测试方法可提高测试机的利用率,从而提高测试工作的效率,节省测试时间。 | ||
搜索关键词: | 源复用 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种源复用测试方法,其特征在于,测试机的一个电源采用继电器与至少两个待测集成电路连接,该源复用测试方法包括以下步骤:控制继电器,使电源从其对应的至少两个待测集成电路中选择出一个待测集成电路,并与该被选择的待测集成电路导通;对该被选择的待测集成电路进行本次参数项目的测试,并对测试结果进行统计;切换继电器,重复上述步骤,直至电源所对应的所有待测集成电路本次参数项目测试完毕。
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