[发明专利]检查发光装置的方法有效
| 申请号： | 201110116231.5 | 申请日： | 2011-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN102736008A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 金孟权;崔琪旭;金宇烈 | 申请（专利权）人： | 赛科隆股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 | 代理人： | 段迎春 |
| 地址： | 韩国忠清南道天*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 在一种检查发光装置的方法中，将第一晶片装载到第一卡盘上，用第一探针卡对所述第一晶片上的发光装置进行电检查。然后，将所述第一晶片装载到第二卡盘上，用第二探针卡对所述第一晶片上的发光装置进行光检查。当对所述第一晶片进行光检查时，将第二晶片装载到所述第一卡盘上，由所述第一探针卡对所述第二晶片上的发光装置进行电检查。因此，可以缩短对所述发光装置进行电和光检查所需要的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 发光 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种检查发光装置的方法：将晶片装载到第一卡盘上，所述晶片上形成有多个发光装置；对所述晶片进行电检查工艺和光检查工艺中的一个工艺；将所述晶片装载到第二卡盘上；以及进行所述电检查工艺和所述光检查工艺中的另一个工艺。
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