[发明专利]4-联苯甲酸根/LEuH纳米复合体及合成方法有效
申请号: | 201110088038.5 | 申请日: | 2011-04-08 |
公开(公告)号: | CN102199423A | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 马淑兰;楚楠凯;孙亚红;王娟 | 申请(专利权)人: | 北京师范大学;北京师大科技园科技发展有限责任公司 |
主分类号: | C09K11/06 | 分类号: | C09K11/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 魏晓波;逯长明 |
地址: | 100875 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了4-联苯甲酸根/LEuH纳米复合体及其合成方法,合成方法包括:a)将EuCl3·6H2O、NaCl和HMT溶于水中,通入N2,进行水热反应,然后过滤、洗涤、干燥,合成Eu(OH)2.5Cl0.5·nH2O;b)向4-联苯甲酸中加入NaOH,得到4-联苯甲酸的钠盐溶液,将步骤a)制备的Eu(OH)2.5Cl0.5·nH2O分散于所述4-联苯甲酸的钠盐溶液中进行水热反应,然后洗涤、干燥;所述4-联苯甲酸的摩尔数为所述Eu(OH)2.5Cl0.5·nH2O摩尔数的3倍。该合成方法是在LEuH层间插入4-联苯甲酸根,提高能量传递效率,合成的4-联苯甲酸根/LEuH纳米复合体稳定性高,Eu3+发光性能增强,是性质优良的层状复合材料。 | ||
搜索关键词: | 联苯 甲酸 leuh 纳米 复合体 合成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种4-联苯甲酸根/LEuH纳米复合体,其特征在于,使用铜对阴极X射线衍射仪测定得到X射线衍射图,晶面间距d与布拉格2θ角的关系为:
其在激发波长395nm处的发射光谱中的发射峰波长与强度的关系为:![]()
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