[发明专利]硅光电倍增探测器结构、制作及使用无效

专利信息
申请号: 201110087811.6 申请日: 2011-04-08
公开(公告)号: CN102735350A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 韩德俊;胡小波;胡春周;殷登平 申请(专利权)人: 北京师范大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;H01L27/14;H01L31/107
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100875 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及采用与APD单元相连的衬底体电阻来制备硅光电倍增探测器(SiPM)的雪崩淬灭电阻,其目的是为了解决SiPM的探测效率与动态范围不可兼顾的矛盾,可以在保证高探测效率的同时依然保证高的动态范围。提出采用铝诱导非晶硅晶化方法制备雪崩淬灭电阻,以简化SiPM的制作工艺。提出采用“叉指”型双子SiPM器件结构及其双路符合测量光信号的方法,以期克服SiPM暗计数率较高的问题。
搜索关键词: 光电 倍增 探测器 结构 制作 使用
【主权项】:
一种硅光电倍增探测器(SiPM),由10至10万个雪崩光电二极管(APD)单元集成在同一个硅外延片上组成,每个APD单元都串联一个雪崩淬灭电阻,雪崩淬灭电阻由所述硅外延片外延层制备,所有APD单元并联输出,共用一个负载,其特征是:所述硅外延片外延层的电阻率与其厚度的乘积为0.04Ω·cm2至25Ω·cm2。
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