[发明专利]对射光束同轴误差的测量方法有效

专利信息
申请号: 201110063651.1 申请日: 2011-03-16
公开(公告)号: CN102226689A 公开(公告)日: 2011-10-26
发明(设计)人: 吕德胜;赵剑波;屈求智;汪斌;刘亮;王育竹 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种对射光束同轴误差的测量方法,该方法通过一个分束棱镜、二维平移调整器、角反射器、光强探测器和观测屏,可以测量两束对射重合光的重合误差,本发明方法具有设备简单、容易观测,测量方便,对射光束的同轴调整快捷方便、准确可靠的特点。
搜索关键词: 对射 光束 同轴 误差 测量方法
【主权项】:
一种对射光束同轴误差的测量方法,其特征在于该方法包括下列步骤:①待测的两对射光束分别称为第一光束和第二光束,在所述的两对射光束的光路中插入一块偏振分束棱镜(5),使该偏振分束棱镜(5)的分光面与所述的光束成45°;②在所述的偏振分束棱镜(5)的第二光束的反射光方向依次设置四分之一波片(4)、角反射器(2)和光强探测器(1),该角反射器(2)置于二维平移调整架(3)上并且该角反射器(2)的斜边与所述的反射光束垂直,而该角反射器(2)的直角顶指向所述的光强探测器(1);在所述的偏振分束棱镜(5)的第一光束的反射光方向设置观测屏(6);③调整所述的二维平移调整架(3),通过光强探测器(1)观察,使之观察到所述的第二反射光经所述的角反射器(2)的直角顶的漏光,然后调整所述的四分之一波片(4),使经角反射器(2)的直角顶反回的光束透过所述的偏振分束棱镜(5);④所述的第一光束经所述的偏振分束棱镜(5)反射后在所述的观测屏(6)上形成第一光斑,第二光束经所述的偏振分束棱镜(5)反射后经所述的四分之一波片(4)、角反射器(2)后返回,再经所述的四分之一波片(4),透过偏振分束棱镜(5)在所述的观测屏(6)上形成第二光斑,测量第一光斑和第二光斑中心的距离d1;⑤沿光路方向移动所述的观测屏(6)的距离为L,测量第一光斑和第二光斑中心的距离d2;⑥然后利用下列公式可以计算出两对射光束之间的夹角为:α=arcsin[(d1‑d2)/L],当夹角很小时,α≈(d1‑d2)/L。
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