[发明专利]基于机器视觉的磁瓦表面缺陷自动检测方法与装置无效
申请号: | 201110061144.4 | 申请日: | 2011-03-14 |
公开(公告)号: | CN102253050A | 公开(公告)日: | 2011-11-23 |
发明(设计)人: | 严俊龙;李铁源;唐孟华;谌杨帆;吴志杰;郑晓曦 | 申请(专利权)人: | 广州市盛通建设工程质量检测有限公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 510075*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及机器视觉检测领域,提供了一种通过机器视觉技术对磁瓦表面缺陷进行检测的方法和装置。该方法的技术方案为:(1)将被检测磁瓦置于传送带上;(2)启动CCD图像采集装置,采集磁瓦表面图像并传送至图像处理单元;(3)图像处理单元将(2)中采集的图像经图像滤波、图像分割、后形态学处理、边缘检测等处理后,将处理结果传输至缺陷检测单元;(4)将(3)中图像处理结果经特征提取,转化为一维数字信号;(5)将(4)所得结果经概率模式识别单元训练和测试后,将磁瓦表面质量分为良好磁瓦和缺陷磁瓦两类,以达到缺陷检测的目的。该方法及装置结构简单,易于维护和扩展,检测效率高,设备投入低。 | ||
搜索关键词: | 基于 机器 视觉 表面 缺陷 自动检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种基于机器视觉的磁瓦表面缺陷自动检测方法,包括以下步骤:(1)将被检测磁瓦置于传送带上;(2)启动CCD图像采集装置,采集磁瓦表面图像并传送至图像处理单元;(3)图像处理单元将(2)中采集的图像经图像滤波、图像分割、后形态学处理、边缘检测等处理后,将处理结果传输至缺陷检测单元。(4)将(3)中图像处理结果经特征提取,转化为一维数字信号;(5)将(4)所得结果经概率模式识别单元训练和测试后,将磁瓦表面质量分为良好磁瓦和缺陷磁瓦两类,以达到缺陷检测的目的。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州市盛通建设工程质量检测有限公司,未经广州市盛通建设工程质量检测有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110061144.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。