[发明专利]外观检查装置无效
申请号: | 201110035060.3 | 申请日: | 2011-01-30 |
公开(公告)号: | CN102192713A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 梶田昌和;高桥英二 | 申请(专利权)人: | 株式会社神户制钢所 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/30 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 李贵亮 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种外观检查装置,其正确且高速地算出太阳电晶片的三维形状。第一及第二形状算出部(24、34)根据通过拍摄部(20)以规定的帧频连续地拍摄到的多幅的光切断线图像的图像数据而算出晶片(50)的表面的三维形状数据。在此,第一形状算出部(24)在相机(21~23)对当前帧的光切断线图像进行拍摄的期间,在对之前一帧进行搜索处理,同时对之前第二帧的光切断线图像进行重心算出处理。 | ||
搜索关键词: | 外观 检查 装置 | ||
【主权项】:
一种外观检查装置,其检查太阳电池晶片的外观,其中,具备:输送部,其沿着在所述太阳电池晶片上形成的切割痕的长度方向而以一定速度输送所述太阳电池晶片;照射部,其对由所述输送部输送的太阳电池晶片沿与输送方向交叉的方向照射光切断线;拍摄机构,其以一定周期连续地拍摄光切断线图像,该光切断线图像包括由所述照射部照射的光切断线;形状算出机构,其根据通过所述拍摄机构拍摄到的多幅光切断线图像的图像数据,算出所述太阳电池晶片的三维形状数据,所述形状算出机构与由所述拍摄机构进行的所述光切断线图像的连续拍摄处理并行地执行所述太阳电池晶片的三维形状数据的算出处理。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社神户制钢所,未经株式会社神户制钢所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110035060.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种实现移动云服务的系统及方法
- 下一篇:冷热兼顾的窗式空调器