[发明专利]大动态范围点源杂光透射系数测量装置

摘要

大动态范围点源杂光透射系数测量装置，它属于光电测试领域，它得到现有光学系统中杂光透射系数。本发明的水平转台上安装有待测光学系统，所述的水平转台用于控制待测光学系统在水平面内旋转；光路组件包括孔径光阑、折轴反射镜和大口径平行光管；太阳模拟器发出的光线经孔径光阑投射在折轴反射镜上，经折轴反射镜反射后投射到大口径平行光管上，大口径平行光管的出射光束为大口径平行光，所述的大口径平行光投射在待测光学系统的入瞳口径上；探测器分为前部探测器和后部探测器，所述前部探测器和后部探测器分别安装在待测光学系统的受光面上和背光面上，探测器用来探测待测光学系统前后辐射照度。应用于空间光学系统中的装置。

主权项

大动态范围点源杂光透射系数测量装置，其特征在于它包括太阳模拟器(1)、光路组件、水平转台(6)和探测器；水平转台(6)上安装有待测光学系统(5)，所述的水平转台(6)用于控制待测光学系统(5)在水平面内旋转；光路组件包括孔径光阑(2)、折轴反射镜(3)和大口径平行光管(4)；太阳模拟器(1)发出的光线经孔径光阑(2)投射在折轴反射镜(3)上，经折轴反射镜(3)反射后投射到大口径平行光管(4)上，大口径平行光管(4)的出射光束为大口径平行光，所述的大口径平行光投射在待测光学系统(5)的入瞳口径上；探测器分为前部探测器(8)和后部探测器(7)，所述前部探测器(8)和后部探测器(7)分别安装在待测光学系统(5)的受光面上和背光面上，探测器用来探测待测光学系统(5)前后辐射照度。