[发明专利]一种快速检测取向硅钢晶粒取向的方法无效

专利信息
申请号: 201110008621.0 申请日: 2011-01-16
公开(公告)号: CN102095622A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 王宝川;王全礼;夏兆所;许学勇;冯莉莉;王崇学;董浩;赵楠;周宜军;潘丽梅;张莉霞 申请(专利权)人: 首钢总公司
主分类号: G01N1/32 分类号: G01N1/32;G01B15/00
代理公司: 北京华谊知识产权代理有限公司 11207 代理人: 刘月娥
地址: 100041 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种快速检测取向硅钢晶粒取向的方法,属于取向电工钢检测技术领域。步骤为:将高温退火后的取向硅钢样品用不同颗粒度的水磨砂纸进行打磨,标准是没有粗大的划痕,然后将样品在硝酸酒精中侵蚀,快速用纯净水冲洗,并用脱脂棉擦干,然后用吹风机吹干。用扫描仪扫描得到样品组织图,并用铅笔将样品编号,将样品放入扫描电镜中,用EBSD的Flamenco软件打散点快速测定各个晶粒的取向,最后用HKL Channel5的Project manager data软件处理得出各个晶粒取向、与理想高斯的取向差以及各个晶粒的极图。优点在于,操作简便,实验效率高,节约成本。
搜索关键词: 一种 快速 检测 取向 硅钢 晶粒 方法
【主权项】:
一种快速检测取向硅钢晶粒取向的方法,其特征在于,操作步骤如下:(1)使用砂纸对70mm×10mm的高温退火试样进行打磨;(2)将样品在2%‑10%体积分数的硝酸酒精中侵蚀,侵蚀时间为3‑8分钟,侵蚀到出现明显的晶粒,(3)将样品用纯净水清洗干净,用脱脂棉擦干,用吹风机吹干,保证表面的干净;(4)将样品放入电镜室,用EBSD的Flamenco软件打散点;(5)使用软件处理得出晶粒取向、与理想高斯的取向差以及各个晶粒的极图。
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