[发明专利]粒子射线照射装置、粒子射线治疗装置以及数据显示程序有效

专利信息
申请号: 201080070331.2 申请日: 2010-12-24
公开(公告)号: CN103228319A 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 岩田高明;鉾馆俊之 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: A61N5/10 分类号: A61N5/10
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 侯颖媖
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于得到一种粒子射线照射装置,该粒子射线照射装置能够将和带电粒子束的照射位置相关联的照射位置关联值、与照射位置关联值误差相对应地进行显示。该粒子射线照射装置包括数据处理装置(19),该数据处理装置(19)将照射位置关联值误差与实际照射位置关联值相对应地在显示部(43)上显示,该照射位置关联值误差是和带电粒子束(1)的照射位置相关联的实际照射位置关联值的、相对于和目标照射位置相关联的目标照射位置关联值的误差,数据处理装置(19)具有运算部(42),该运算部(42)在目标照射位置关联值的坐标上显示目标值显示图形(23),在将利用变形系数对照射位置关联值误差进行运算后的坐标加上目标照射位置关联值而得到的坐标、即显示坐标上显示测定值显示图形(24),并显示将测定值显示图形(24)与目标值显示图形(23)相连接的线段(25),其中,该目标值显示图形(23)表示目标照射位置关联值,该测定值显示图形(24)表示实际照射位置关联值。
搜索关键词: 粒子 射线 照射 装置 治疗 以及 数据 显示 程序
【主权项】:
一种粒子射线照射装置,利用扫描电磁铁使经加速器加速后的带电粒子束进行扫描,并向照射对象照射,该粒子射线照射装置包括:检测器,该检测器检测和所述带电粒子束的照射位置相关联的实际照射位置关联值;以及数据处理装置,该数据处理装置将照射位置关联值误差与所述实际照射位置关联值相对应地在显示部上显示,该照射位置关联值误差是所述实际照射位置关联值的、相对于目标照射位置关联值的误差,该目标照射位置关联值和所述带电粒子束的目标照射位置相关联,所述数据处理装置具有:输入部,该输入部输入所述实际照射位置关联值以及所述目标照射位置关联值;以及运算部,该运算部在和所述带电粒子束的照射区域相关联的照射区域关联区域上、显示表示所述目标照射位置关联值的目标值显示图形以及表示所述实际照射位置关联值的测定值显示图形时,在所述目标照射位置关联值的坐标上显示所述目标值显示图形,在将利用变形系数对所述照射位置关联值误差进行运算后的坐标加上所述目标照射位置关联值而得到的坐标、即显示坐标上显示所述测定值显示图形,并显示将所述测定值显示图形与所述目标值显示图形相连接的线段。
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