[发明专利]具有专用电子模块的测试器和并入或使用该测试器的系统和方法有效
申请号: | 201080069841.8 | 申请日: | 2010-10-29 |
公开(公告)号: | CN103221833A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 爱德马度·德拉帕恩特;肯·汉·徳希·莱 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试(新加坡)私人有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/02;G01R31/26 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 李晓冬 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | 在一个实施例中,自动化测试仪器(ATE)系统包括测试器,该测试器具有测试器电子模块、专用电子模块和测试器至待测设备(DUT)接口装配装置。测试器电子模块具有第一电子接口,该第一电子接口被配置为在测试器至DUT接口被耦接到测试器至DUT接口装配装置时电连接到测试器至DUT接口。专用电子模块具有第二电子接口和第三电子接口。第二和第三电子接口被配置为在测试器至DUT接口耦接到测试器至DUT接口装配装置时电连接到测试器至DUT接口。专用电子模块被配置为经由第二电子接口与测试器电子模块通信,并经由第三电子接口与至少一个DUT通信。 | ||
搜索关键词: | 具有 专用 电子 模块 测试 并入 使用 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种自动化测试仪器(ATE)系统,包括:测试器,该测试器具有:i)多个电子模块装配装置;ii)装配到所述电子模块装配装置之一的测试器电子模块;和iii)装配到所述电子模块装配装置之一的专用电子模块;可拆卸的测试器至待测设备(DUT)接口,该测试器至DUT接口可拆卸地电可连接到所述测试器,所述测试器至DUT接口具有DUT接口,其中,所述DUT接口可拆卸地电可连接到DUT;介于所述测试器电子模块和所述专用电子模块之间的ATE信号路径,所述ATE信号路径部分地由所述可拆卸的测试器至DUT接口限定;以及介于所述专用电子模块与所述DUT接口之间的DUT信号路径,所述DUT信号路径部分地由所述可拆卸的测试器至DUT接口限定;其中,将所述可拆卸的测试器至DUT接口从所述测试器拆卸使得所述ATE信号路径和所述DUT信号路径两者都断开。
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