[发明专利]反射密度计有效
| 申请号： | 201080060827.1 | 申请日： | 2010-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN102687005A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | H.比雷基;W.D.霍兰;O.吉拉 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | G01N33/32 | 分类号： | G01N33/32;B41J29/393;G01N21/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 马红梅;卢江 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了一种用于确定光密度的方法。在基底的白色区域上进行第一测量(402)。在用油墨印刷的所述基底的区域上进行第二测量(404)。使用所述第一测量和第二测量来确定所述油墨的相对光密度(406)。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 密度计 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：在基底的白色区域上进行第一光密度(OD)测量(402)；在用油墨印刷的所述基底的区域上进行第二OD测量(404)；使用所述第一测量和第二测量来确定所述油墨的相对OD (406)，通过将所述油墨的所述相对OD加到所述基底的绝对OD来确定所述油墨的绝对OD (408)。
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