[发明专利]基于锗的量子阱器件有效

专利信息
申请号: 201080060555.5 申请日: 2010-12-09
公开(公告)号: CN102687273A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: R·皮尔拉瑞斯帝;B-Y·金;B·楚-昆古;M·V·梅茨;J·T·卡瓦利罗斯;M·拉多萨佛杰维科;R·科托尔亚;W·瑞驰梅迪;N·穆克赫吉;G·德威;R·乔 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H01L29/772 分类号: H01L29/772;H01L21/335
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 张东梅
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种量子阱晶体管具有锗量子阱沟道区。含硅的蚀刻停止层提供栅电介质接近沟道的容易放置。III-V族势垒层对沟道增加应变。沟道区之上和之下的缓变硅锗层改进了性能。多种栅电介质材料允许使用高k值栅电介质。
搜索关键词: 基于 量子 器件
【主权项】:
一种器件,包括:包括大带隙材料的下势垒区;在所述下势垒区上的包括锗的量子阱沟道区;在所述量子阱区上的包括大带隙材料的上势垒区;在所述量子阱沟道区上的间隔区;在所述间隔区上的蚀刻停止区,所述蚀刻停止区包括硅且基本上无锗;在所述蚀刻停止区上的栅电介质;在所述栅电介质上的栅电极。
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