[发明专利]具备AD变换器的温度检测电路及半导体集成电路

摘要

本发明提供一种具备AD变换器的温度检测电路及半导体集成电路。在具备AD变换器的温度检测电路中，在动作开始时暂时使逐次比较型AD变换器(1)动作，由所述AD变换器(1)对来自电压产生电路(BGR1)的具有温度依存性的模拟电压进行AD变换，来确定该数字信号的全部比特。然后，电力控制电路(2)只检测输入了夹着所述模拟电压的电位的上下相邻的基准电压的比较器的输出变化，切断输入了夹着所述模拟电压的电位的上下相邻的基准电压的比较器以外的比较器的电源供给。因此，即便在利用所述AD变换器来检测如具有温度依存性的模拟电压那样恒定且变化慢的信号的情况下，也能使AD变换器的分辨率不劣化、降低消耗电力且缩短信号处理时间。

主权项

一种具备AD变换器的温度检测电路，由电压产生电路、逐次比较型AD变换器和电力控制电路构成，所述电压产生电路产生依存于温度特性的模拟电压；所述逐次比较型AD变换器从所述电压产生电路接受所述模拟电压，并具有将该模拟电压与不同的多个基准电压进行比较的多个比较器；所述电力控制电路对所述AD变换器的动作进行控制，其中，所述电力控制电路使所述AD变换器所具备的全部比较器动作来进行温度测量，在确定了所述AD变换器的数字信号的全部比特的值之后，将输入了夹着从所述电压产生电路输出的模拟电压的电位的上下相邻的基准电压的比较器以外的比较器的电源供给切断，检测输入了夹着所述模拟电压的电位的上下相邻的基准电压的比较器的输出变化。