[发明专利]图像采集无效
申请号: | 201080034765.7 | 申请日: | 2010-08-20 |
公开(公告)号: | CN102549733A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | G·L·科克;M·W·德斯廷;S-H·黄;I·T·刘易斯 | 申请(专利权)人: | 克拉-坦科股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 徐伟 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于创建基板图像的检验系统。光源引导入射光至基板上,以及光源定时控制器控制该入射光的脉冲定时。台面承载该基板且在该入射光下移动该基板,以使基板反射该入射光为反射光。台面位置传感器报告该台面的位置,以及台面位置控制器控制该台面的位置。时域积分传感器接收该反射光,以及时域积分传感器定时控制器控制该时域积分传感器的行位移。控制系统与光源定时控制器、台面位置控制器以及时间延迟积分传感器定时控制器通信,并且设置该入射光的脉冲定时、台面的位置以及时间延迟积分传感器的行位移,以使该时域积分传感器的单行积分来自源于该光源的一个以上脉冲的入射光的反射光。 | ||
搜索关键词: | 图像 采集 | ||
【主权项】:
一种用于创建基板图像的检验系统,所述检验系统包括:光源,用于引导入射光至所述基板上;光源定时控制器,用于控制所述入射光的脉冲定时;台面,用于承载所述基板且在所述入射光下移动所述基板,由此所述基板反射所述入射光为反射光;台面位置传感器,用于报告所述台面的位置;台面位置控制器,用于控制所述台面的位置;时域积分传感器,用于接收所述反射光;时域积分传感器定时控制器,用于控制所述时域积分传感器的行位移;以及控制系统,其与所述台面位置控制器和时间延迟积分传感器定时控制器通信,用于设置所述台面的位置以及所述时间延迟积分传感器的行位移,以使所述台面和所述时间延迟积分传感器在单个行位移内积分来自源于所述光源的一个以上脉冲的入射光的反射光以形成图像。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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