[发明专利]断层图像摄像设备和断层图像校正处理方法有效
申请号: | 201080031772.1 | 申请日: | 2010-06-02 |
公开(公告)号: | CN102469936A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 坂川幸雄;佐藤真;山本裕之 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | A61B3/10 | 分类号: | A61B3/10;A61B3/12;G01N21/17 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实现了通过使用断层图像摄像设备所拍摄的多个断层图像之间的精确位置偏移校正。本发明是一种用于校正构成三维断层图像的多个二维断层图像之间的位置偏移的断层图像摄像设备。该设备包括:断层图像分析单元(120),用于提取表示测量对象的组织的特征量;断层图像选择单元(140),用于基于所述特征量,从所述多个二维断层图像中选择基准二维断层图像;以及断层图像位置校正单元(150),用于计算与所述基准二维断层图像相邻的第n个二维断层图像和第(n-1)个二维断层图像之间的位置偏移量。 | ||
搜索关键词: | 断层 图像 摄像 设备 校正 处理 方法 | ||
【主权项】:
一种断层图像摄像设备,其特征在于,包括:断层图像获取部件,用于获取多个断层图像;分析部件,用于分析所述多个断层图像中的各个断层图像;断层图像选择部件,用于基于分析结果,选择基准断层图像;以及断层图像位置校正部件,用于通过使用所选择的基准断层图像,对所述多个断层图像进行位置校正。
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