[发明专利]放射线摄像设备及其控制方法

摘要

一种放射线摄像设备，包括：X射线照射单元，用于照射X射线；X射线检测单元，用于检测所述X射线照射单元照射的被检体的X射线图像，所述放射线摄像设备还包括：第一缺陷检测单元，用于将X射线图像中、像素值始终异常的像素检测为位置依赖缺陷，并且获取所述缺陷在所述X射线图像中的位置信息；第二缺陷检测单元，用于将所述X射线图像中、依赖于时间的经过而暂时变为异常的像素检测为缺陷；以及确定单元，用于基于表示摄像条件的信息，来确定用于对所述第二缺陷检测单元检测到异常的像素的像素值进行校正的校正方法。

主权项

一种放射线摄像设备，包括：X射线照射部件，用于照射X射线；以及X射线检测部件，用于检测所述X射线照射部件照射的被检体的X射线图像，所述放射线摄像设备还包括：第一缺陷检测部件，用于将所述X射线检测部件检测到的多个X射线图像中、像素值始终异常的像素检测为位置依赖缺陷，并且获取所述缺陷在所述X射线图像中的位置信息；第一缺陷校正部件，用于基于所述位置信息和检测到像素值的异常的像素的相邻像素的像素值，来校正检测到异常的像素的像素值；获取部件，用于获取表示所述X射线检测部件检测到所述X射线图像时、所述被检体的摄像条件的信息；判断部件，用于基于所述获取部件获取到的表示所述摄像条件的信息，来判断是否对所述第一缺陷校正部件校正后的X射线图像进行进一步校正；第二缺陷检测部件，用于当所述判断部件判断为对所述X射线图像进行进一步校正时，将所述X射线检测部件检测到的多个X射线图像中、依赖于时间的经过而暂时变为异常的像素检测为缺陷；确定部件，用于基于表示所述摄像条件的信息，确定用于对所述第二缺陷检测部件检测到异常的像素的像素值进行校正的校正方法；以及第二缺陷校正部件，用于根据所述确定部件确定出的所述校正方法，来校正所述第二缺陷检测部件检测到的像素的像素值。