[发明专利]用于测量对象的方法有效
| 申请号： | 201080008625.2 | 申请日： | 2010-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN102326182A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | R.克里斯托弗;I.施密特;M.哈默;T.韦登赫费尔 | 申请（专利权）人： | 沃思测量技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T11/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 臧永杰;卢江 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用来校正用于CT重建的透射图像或投影数据的方法，其中在测量时待测量的工件布置在发射X射线辐射的X射线源与接收X射线辐射的X射线探测器之间。此外，本发明还涉及一种用于根据事先拍摄的透射图像利用在探测器上诸如反差明显的尽可能质量高的成像确定用于计算机断层造影的参数。本发明还涉及一种用于借助测量系统、优选计算机断层造影测量系统确定对象的结构和/或几何形状的装置，该测量系统由至少一个辐射源、至少一个辐射探测器和至少一个旋转轴组成。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 对象 方法 | ||
【主权项】：
用于在使用具有像素的CT探测器的情况下校正用于CT重建的投影数据的方法，其特征在于，为了校正所采用的CT探测器的各个像素或者像素组的测量值使用不同的特性曲线。
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