[发明专利]校准集成电路的时间常数的系统和设有此系统的集成电路有效
| 申请号： | 201080005906.2 | 申请日： | 2010-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN102301591A | 公开（公告）日： | 2011-12-28 |
| 发明（设计）人： | 艾瑞克·安德烈;塞巴斯蒂安·勒费布尔;乔纳森·阿米亚希 | 申请（专利权）人： | 意法爱立信有限公司 |
| 主分类号： | H03H11/12 | 分类号： | H03H11/12;H03H7/01 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 瑞士普*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 用于校准集成电子电路(1)的时间常数R0C1的系统和方法。可变阻抗滤波器(20)连接到所述集成电子电路(1)的输入，固定频率的模拟输入信号Vin施加到所述滤波器(20)，测量所述滤波器(20)产生的模拟输入信号Vin的衰减，以及调整所述时间常数R0C1的值和所述可变阻抗滤波器(20)的阻抗值，直到获得与所述集成电子电路(1)的预期衰减一致的衰减为止。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 集成电路 时间常数 系统 设有 | ||
【主权项】：
一种用于校准集成电子电路(1)的可调时间常数(R0Ci)的方法，其特征在于，可变阻抗滤波器(20)连接到所述集成电子电路(1)的输入端，固定频率的模拟输入信号(Vin)施加到所述滤波器(20)，测量所述滤波器(20)产生的模拟输入信号(Vin)衰减，以及调整所述时间常数(R0Ci)的值和所述可变阻抗滤波器(20)的阻抗的值，直到获得与所述集成电子电路(1)的预期衰减一致的衰减为止。
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