[发明专利]校准集成电路的时间常数的系统和设有此系统的集成电路

权利要求书

1.一种用于校准集成电子电路(1)的可调时间常数(R₀C_i)的方法，其特征在于，可变阻抗滤波器(20)连接到所述集成电子电路(1)的输入端，固定频率的模拟输入信号(V_in)施加到所述滤波器(20)，测量所述滤波器(20)产生的模拟输入信号(V_in)衰减，以及调整所述时间常数(R₀C_i)的值和所述可变阻抗滤波器(20)的阻抗的值，直到获得与所述集成电子电路(1)的预期衰减一致的衰减为止。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述时间常数(R₀C_i)由电阻元件(R₀)和电容元件(C_i)形成。

3.如权利要求1或2中任一项所述的方法，其中由所述滤波器(20)产生的所述模拟输入信号(V_in)衰减是通过比较所进行的不具有所述滤波器(20)的功率测量和所进行的具有所述滤波器(20)的功率测量而确定的。

4.如权利要求3所述的方法，其中具有所述滤波器(20)和不具有所述滤波器(20)的测量是借助于将所述滤波器(20)连接到所述集成电路(1)的受控滤波器通/断开关(15)进行选择的。

5.如权利要求1到4中任一项所述的方法，其中所述可变阻抗滤波器(20)包括第一可变阻抗硬件元件和第二可变阻抗硬件元件，所述第一可变阻抗硬件元件和所述第二可变阻抗硬件元件包括具有固定阻抗的固定硬件元件和在通/断开关(B)的控制下选择性连接到所述固定硬件元件并具有单位阻抗的单位硬件元件的组件。

6.如权利要求5所述的方法，其中所述固定硬件元件和所述单位硬件元件各包括电阻器。

7.如权利要求5所述的方法，其中所述固定硬件元件和所述单位硬件元件各包括电容器。

8.如权利要求5到7中的任一项所述的方法，其中所述时间常数(R₀C_i)的值是通过产生用于操作所述通/断开关的数字控制字而调整的，所述字对应于所测量到的衰减和所述集成电子电路(1)的预期衰减之间的偏差。

9.如权利要求8所述的方法，其中所述数字字的位数和可变阻抗硬件元件的所述单位硬件元件的值根据所述时间常数(R₀C_i)的精确度进行调整。

10.如权利要求1到9中的任一项所述的方法，其中所述模拟输入信号(V_in)是方波信号。

11.如权利要求1到10中的任一项所述的方法，其特征在于，所述集成电子电路(1)是Δ-∑类型的调制器。

12.一种用于校准集成电子电路(1)的时间常数(R₀C_i)的系统，其特征在于，所述系统包括可变阻抗滤波器(20)和分析装置，所述可变阻抗滤波器(20)连接到集成电子电路(1)的输入端，所述分析装置能够测量所述滤波器(20)产生的固定频率的模拟输入信号(V_in)的衰减和调整所述时间常数(R₀C_i)的值以及所述可变阻抗滤波器(20)的阻抗的值，直到获得与所述集成电子电路(1)的预期衰减一致的衰减为止。

13.如权利要求12所述的系统，其特征在于，所述集成电路(1)包括形成所述时间常数(R₀C_i)的电阻元件(R₀)和电容元件(C_i)。

14.如权利要求12或13中任一项所述的系统，其特征在于，所述系统包括能够将所述滤波器(20)连接到所述集成电路(1)的输入端的滤波器通/端开关(15)，所述滤波器通/端开关(15)受所述集成电路(1)控制。