[实用新型]一种深孔类零件影像测量装置无效
申请号: | 201020210719.5 | 申请日: | 2010-05-29 |
公开(公告)号: | CN201795778U | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 祝良荣;邹华东 | 申请(专利权)人: | 浙江工业职业技术学院 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/24;G01B11/22 |
代理公司: | 绍兴市越兴专利事务所 33220 | 代理人: | 蒋卫东 |
地址: | 312000 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开一种深孔类零件影像测量装置,包括大理石基准精密平台、大理石精密基准立柱;三维精密工作台、同轴光源、平晶、单筒显微镜头、电荷耦合器件和Z向位置调整机构;其中大理石基准精密平台和垂直安装在大理石基准精密平台上的大理石精密基准立柱构成机台,大理石基准精密平台上还安装有三维精密工作台和支架,三维精密工作台之上的支架上安装有同轴光源,同轴光源之上的支架上还安装有平晶;大理石精密基准立柱上安装有Z向位置调整机构,Z向位置调整机构与单筒显微镜头固连,单筒显微镜头上安装有电荷耦合器件。本实用新型能实现对深孔类零件深孔的观察与精密测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 深孔类 零件 影像 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种深孔类零件影像测量装置,其特征在于:包括大理石基准精密平台(6)、大理石精密基准立柱(8);三维精密工作台(5)、同轴光源(4)、平晶(3)、单筒显微镜头(2)、电荷耦合器件(1)和Z向位置调整机构;其中大理石基准精密平台(6)和垂直安装在大理石基准精密平台(6)上的大理石精密基准立柱(8)构成机台,大理石基准精密平台(6)上还安装有三维精密工作台(5)和支架(14),支架(14)上安装有同轴光源(4),位于同轴光源(4)之上的支架(14)上还安装有平晶(3);大理石精密基准立柱(8)上安装有Z向位置调整机构,Z向位置调整机构与单筒显微镜头(2)固连,单筒显微镜头(2)上安装有电荷耦合器件(1)。
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