[实用新型]高压介质损耗测试仪器无效

专利信息
申请号: 201020206563.3 申请日: 2010-05-28
公开(公告)号: CN201673211U 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 付友君 申请(专利权)人: 长沙金艺电子科技有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 410205 湖南省长沙市岳麓区*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 实用新型涉及一种高压介质损耗测试仪器,其由串谐升压控制箱、激励变压器、电抗器、补偿电容器、标准电容、高压取样单元、被试品以及介质损耗测试仪等部件组成,其中标准电容连接至介质损耗测试仪,并为介损测试仪提供一个标准信号通道;高压取样单元与被试品串接,且高压取样单元通过光纤与介质损耗测试仪连接,并为介损测试仪提供一个被试品信号通道;所述介质损耗测试仪将标准信号通道和被试品信号通道上传递过来的信号进行模拟数字转换,并将数字信号的处理,最终得出检测结果。本高压介质损耗测试仪器结构简单,能够在500KV高压端进行电流信号取样,并保证介损准确测试,具有十分广阔的应用前景。
搜索关键词: 高压 介质 损耗 测试 仪器
【主权项】:
一种高压介质损耗测试仪器,其特征在于:其包括串谐升压控制箱、激励变压器、电抗器、补偿电容器、标准电容、高压取样单元、被试品以及介质损耗测试仪,其中,所述串谐升压控制箱、激励变压器、电抗器以及补偿电容器依次串接并为被试品提供一个用于测试的高压源;所述标准电容通过一芯线连接至介质损耗测试仪,并为介损测试仪提供一个标准信号通道;所述高压取样单元与被试品串接,且高压取样单元通过光纤与介质损耗测试仪连接,并为介损测试仪提供一个被试品信号通道;所述介质损耗测试仪将标准信号通道和被试品信号通道上传递过来的信号进行模拟 数字转换,并将数字信号的处理,最终得出检测结果。
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