[实用新型]一种籽晶检距测试仪无效

专利信息
申请号: 201020163257.6 申请日: 2010-04-16
公开(公告)号: CN201653940U 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 谢加地;孟范洪 申请(专利权)人: 谢加地
主分类号: G01N23/207 分类号: G01N23/207
代理公司: 泰安市泰昌专利事务所 37207 代理人: 姚德昌
地址: 271000 *** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型提供了一种籽晶检距测试仪,涉及一种测量装置,包括X射线管箱体(1)、测试台(2)、探头(3)、控制器、指示仪表及机台内的高压发生器、稳压器、稳压电源,测量光路依次经过X射线管、水晶、探头(3),探头内设置有计数器,还包括有电子显微镜(4)及与其相连接的显示器(5),测试台(2)水平放置,被测水晶放置在夹具(6)内,本测试仪采用定角定位测试,被测水晶水平放置,无需测算水晶几何表面与籽晶面的角度,并可通过电子显微镜(4)直接得到水晶籽晶面位置及其与表面的距离值,为下一步打磨加工做好准备,相比与现有的单晶测试仪,操作更加简便快捷,测量精度高,节省人力物力,显著提高了水晶产品生产效率。
搜索关键词: 一种 籽晶 测试仪
【主权项】:
一种籽晶检距测试仪,包括固定在机台上的X射线管箱体(1)、测试台(2)、探头(3)、控制器、指示仪表及机台内的高压发生器、稳压器、稳压电源,测量光路依次经过X射线管、水晶、探头(3),探头内设置有计数器,其特征在于:还包括有电子显微镜(4)及与其相连接的显示器(5),测试台(2)水平放置,被测水晶放置在夹具(6)内。
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