[发明专利]传感器高精度动态测试方法无效
| 申请号： | 201010614681.2 | 申请日： | 2010-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN102539925A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 王太宏;张恩迪 | 申请（专利权）人： | 北京中科微纳物联网技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/04 | 分类号： | G01R27/04;G01D18/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100085 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种传感器高精度动态测试方法，通过数值处理器控制测试电压源，实现动态可调的高精度电压源，使得待测传感器所加的测试电压是确定的；通过动态可调的标准精密电阻实现在测量过程中动态选择合适的测量档位，并通过衰减式反馈网络获得大阻值标准精密电阻；采取极性处理模块解决零点漂移问题，从而实现传感器的大范围动态高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 高精度 动态 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种传感器高精度动态测试方法，包括动态可控的测试电压源：实现动态可调的高精度电压源，使得待测传感器所加的测试电压是确定的；动态可调的标准电阻：通过动态可调的标准精密电阻实现在测量过程中动态选择合适的测量档位，以达到高精度测量。
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