[发明专利]老化测试方法无效
| 申请号： | 201010612740.2 | 申请日： | 2010-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN102128998A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 马雷 | 申请（专利权）人： | 苏州凌创电子系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215021 江苏省苏州市苏州工业*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种老化测试方法。该方法实现采用抗老化和耐腐蚀性机械结构，PXI总线架构，LabVIEW和TestStand平台，高速的CAN卡，模拟采集卡，国际通用VPC，数据上传系统。本发明解决了现有国外技术壁垒，提供了一种性能稳定，功能强大，高度集成，成本低廉，可灵活兼容的老化测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种老化测试方法，其特征在于：采用了较好的抗老化和耐腐蚀性机械结构；基于图形化开发软件LabVIEW和行业领先的测试管理软件TestStand应用程序使得各种测试不仅高度集中，可以灵活地兼容任何其他语言环境；测试的数据可以上传至Tracibility系统，方便生产线的测试和以后的追溯；硬件接口采用国际通用的VPC接口，不仅可以实现稳定的连接，还可以很好兼容其他硬件。
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