[发明专利]老化测试方法无效

专利信息
申请号: 201010612740.2 申请日: 2010-12-29
公开(公告)号: CN102128998A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 马雷 申请(专利权)人: 苏州凌创电子系统有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215021 江苏省苏州市苏州工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 老化 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种老化测试方法,其特征在于:采用了较好的抗老化和耐腐蚀性机械结构;基于图形化开发软件LabVIEW和行业领先的测试管理软件TestStand应用程序使得各种测试不仅高度集中,可以灵活地兼容任何其他语言环境;测试的数据可以上传至Tracibility系统,方便生产线的测试和以后的追溯;硬件接口采用国际通用的VPC接口,不仅可以实现稳定的连接,还可以很好兼容其他硬件。

2.如权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于:机械结构有较好的抗老化和耐腐蚀性。

3.如权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于:使用图形化开发软件LabVIEW和行业领先的测试管理软件TestStand,可以使得各种测试不仅高度集中,而且可以灵活地兼容任何其他语言环境。

4.如权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于:测试数据可以上传至生产线的Tracibility系统,方便生产线的管理和追溯。

5.如权利要求1所述的老化测试方法,其特征在于:硬件采用了国际通用VPC接口。

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