[发明专利]用于确定电化学传感器的失效率的方法有效
| 申请号： | 201010579355.2 | 申请日： | 2010-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN102135517A | 公开（公告）日： | 2011-07-27 |
| 发明（设计）人： | 彼得·比歇勒;蒂洛·特拉普;马丁·弗罗伊登贝格;约尔格-马丁·米勒 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司;因塔利斯有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/30 | 分类号： | G01N27/30 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 车文;樊卫民 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 用于确定电化学传感器的失效率的方法，该失效率是关于如下过程的失效率，其中，该过程通过数个预先规定的过程参数的确定的数值或数值范围来限定，并且其中，为传感器类型预先规定数个缺陷种类，所述方法包括以下步骤：借助专业人士知识，将缺陷率分配给分别由预先规定的过程参数的数值之一或者数值范围之一与预先规定的缺陷种类之一组成的每种组合；在使用分配给由过程参数的数值或者数值范围与缺陷种类组成的组合的缺陷率情况下，按照计算规则计算传感器类型的失效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 电化学传感器 失效 方法 | ||
【主权项】：
用于确定电化学的传感器类型的关于过程的失效率(PFH)的方法，其中，所述过程通过数个预先规定的过程参数的确定的数值或者数值范围(Paraj、Paraj’)来定义，并且其中，为所述传感器类型预先规定数个缺陷种类(Fi)，所述方法包括以下步骤：‑借助专业人士知识，将缺陷率(Rij)分配给由所述预先规定的过程参数的数值之一或者数值范围(Paraj、Paraj’)之一与预先规定的缺陷种类(Fi)之一组成的每种组合；‑在使用分配给由过程参数的数值或者数值范围(Paraj、Paraj’)与缺陷种类(Fi)组成的组合的所述缺陷率(Rij)的情况下，按照计算规则计算出所述传感器类型的所述失效率(PFH)。
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