[发明专利]用于确定电化学传感器的失效率的方法

权利要求书

1.用于确定电化学的传感器类型的关于过程的失效率(PFH)的方法，其中，所述过程通过数个预先规定的过程参数的确定的数值或者数值范围(Para_j、Para_j’)来定义，并且其中，为所述传感器类型预先规定数个缺陷种类(F_i)，所述方法包括以下步骤：

-借助专业人士知识，将缺陷率(R_ij)分配给由所述预先规定的过程参数的数值之一或者数值范围(Para_j、Para_j’)之一与预先规定的缺陷种类(F_i)之一组成的每种组合；

-在使用分配给由过程参数的数值或者数值范围(Para_j、Para_j’)与缺陷种类(F_i)组成的组合的所述缺陷率(R_ij)的情况下，按照计算规则计算出所述传感器类型的所述失效率(PFH)。

2.按权利要求1所述的方法，其中，所述计算规则包括：形成分配给由过程参数的数值或者数值范围(Para_j、Para_j’)与缺陷种类(F_i)组成的所有组合的缺陷率(R_ij)的总和。

3.按权利要求1或2所述的方法，其中，所述传感器类型的所述数个缺陷种类(F_i)借助缺陷可能性分析和影响分析来预先规定。

4.按权利要求1至3之一所述的方法，其中，将缺陷率(R_ij)分配给由所述预先规定的过程参数的数值之一或者数值范围(Para_j、Para_j’)之一与预先规定的缺陷种类(F_i)之一组成的每种组合的步骤包括如下分步骤：

-预先规定有限数目的定性的缺陷率等级，所述定性的缺陷率等级分别代表一个时间间隔内出现缺陷种类(F_i)的不同概率；

-借助专业人士知识，分别将所述定性的缺陷率等级中的一个分配给由过程参数的数值或者数值范围(Para_j、Para_j’)与缺陷种类(F_i)组成的每种组合；以及

-分别通过缺陷率值(P₀、P₁、P₂、P₃、P₄；P₀’、P₁’、P₂’、P₃’、P₄’)来替代所分配的定性的缺陷率等级。

5.按权利要求1至3之一所述的方法，其中，分别将缺陷率(R_ij)分配给分别由所述预先规定的过程参数的数值之一或者数值范围(Para_j、Para_j’)之一与预先规定的缺陷种类(F_i)之一组成的每种组合的步骤包括如下分步骤：

-预先规定有限数目的缺陷率值(P₀、P₁、P₂、P₃、P₄；P₀’、P₁’、P₂’、P₃’、P₄’)，所述缺陷率值分别代表一个时间间隔内出现缺陷种类的不同概率；

-借助专业人士知识，分别将所述缺陷率值(P₀、P₁、P₂、P₃、P₄；P₀’、P₁’、P₂’、P₃’、P₄’)之一分配给由过程参数的数值或者数值范围(Para_j、Para_j’)与缺陷种类组成的每种组合。

6.按权利要求4或5之一所述的方法，其中，所述缺陷率值(P₀、P₁、P₂、P₃、P₄)被估算，特别是基于专业人士知识来估算。