[发明专利]基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法有效
| 申请号： | 201010551130.6 | 申请日： | 2010-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN101995686A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | 张英;周敏心;薛志明 | 申请（专利权）人： | 福州瑞芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01R31/28 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 翁素华 |
| 地址： | 350000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法，在FPGA中设计一个VIP采集模块，用于采集LCDC模块送出的数据；根据LCDC的时序和屏的V_BP、V_FP、V_VD、H_BP、H_FP、H_VD参数，设计两个计数器count1和count2。count1以DOTCLK的频率开始计数，count2以HSYNC的频率开始计数，循环直到LCDC没有数据送出，表示采样结束。最后将采集到的数据导出到一个文件中并和存储器中的发送数据文件进行对比。本发明能灵活的实现任何的数字电路，摆脱模拟信号的干扰，减少受制于专用芯片的束缚，来辅助待测芯片的FT测试。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga lcdc 模块 ft 测试 方法 | ||
【主权项】：
基于FPGA的LCDC模块的FT测试方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤10：在FPGA中设计一个VIP采集模块；步骤20：根据LCDC的时序和屏的V_BP、V_FP、V_VD、V_PW、H_BP、H_FP、H_VD、H_PW参数，设计两个计数器count1和count2；步骤30：计数器count1以DOTCLK的频率开始计数，计数器count2以HSYNC的频率开始计数；步骤40：当count1＝H_BP，HSYNC为高电平，count2＝V_BP时，VIP采集模块开始采集LCDC送出的数据；步骤50：当count1＝H_BP+H_VD且count2＝V_BP时，第一帧的数据采样结束；步骤60：将count1、count2的数据清0，转入步骤四接着第二帧的数据采样，直到LCDC没有数据送出，表示采样结束；步骤70：最后将采集到的数据导出到一个文件中并和存储器中的发送数据文件进行对比。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州瑞芯微电子有限公司，未经福州瑞芯微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010551130.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：大地测绘仪器检校台中的下激光对点校正装置
- 下一篇：角度传感器结构
