[发明专利]浓度测量方法和荧光X射线分析装置有效
| 申请号： | 201010535977.5 | 申请日： | 2010-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN102072912A | 公开（公告）日： | 2011-05-25 |
| 发明（设计）人： | 大泽澄人 | 申请（专利权）人： | 株式会社堀场制作所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 李雪春;武玉琴 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种浓度测量方法和荧光X射线分析装置。在本发明中，对含有硫等对象成分的液体燃料等试样进行荧光X射线分析。从通过荧光X射线分析获得的光谱求出的对象成分的荧光X射线强度，减去与散射X射线及系统峰有关的背景噪声。对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行与试样的组成对应的修正。预先确定表示对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行修正后的值与对象成分浓度的关系的标准曲线。根据标准曲线计算试样中的对象成分浓度。 | ||
| 搜索关键词： | 浓度 测量方法 荧光 射线 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种浓度测量方法，其特征在于，使用荧光X射线分析装置，向试样照射一次X射线，获得从所述试样产生的二次X射线的光谱，根据所述光谱求出所述试样中含有的对象成分的荧光X射线强度，根据求出的所述荧光X射线强度测量所述试样中的所述对象成分的浓度，所述浓度测量方法包括下述步骤：从根据获得的所述光谱求出的所述对象成分的所述荧光X射线强度，减去与所述二次X射线中含有的散射X射线及所述荧光X射线分析装置固有的信号有关的背景噪声的步骤；对减去所述背景噪声后的荧光X射线强度进行与所述试样的组成对应的修正的步骤；以及根据表示所述对象成分的浓度与对减去所述背景噪声后的荧光X射线强度进行所述修正后得到的值的关系的标准曲线，计算所述试样中所述对象成分的浓度的步骤。
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