[发明专利]一种基于二氧化锡的低残压比压敏陶瓷材料的制备方法无效

专利信息
申请号: 201010532613.1 申请日: 2010-11-05
公开(公告)号: CN102030523A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 魏乔苑;何金良;胡军 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: C04B35/457 分类号: C04B35/457;C04B35/622
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 罗文群
地址: 100084*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于二氧化锡的低残压比压敏陶瓷材料的制备方法,属于半导体材料技术领域。本方法由SnO2复合掺杂Co2O3、Cr2O3、Nb2O5,通过陶瓷制备工艺,通过压敏陶瓷材料制备工艺,制得残压比为1.86,非线性系数为42.6,电压梯度为364.6V/mm的压敏陶瓷材料。本发明与现有技术相比,比现有的SnO2基压敏陶瓷残压比低,具有较高的非线性系数和适当的电压梯度;与商用ZnO基压敏陶瓷具有可比的残压比、非线性系数、电压梯度等电学特性,同时具有简单的微观结构和更好的稳定性。
搜索关键词: 一种 基于 氧化 低残压 陶瓷材料 制备 方法
【主权项】:
一种基于二氧化锡的低残压比压敏陶瓷材料的制备方法,其特征在于该方法包括以下步骤:(1)制备压敏陶瓷材料时原料中各组分的摩尔百分比为:SnO2            99.39%~99.42%Co2O3           0.5%Cr2O3           0.02%~0.04%Nb2O5           0.06%~0.07%(2)按上述各组分按配方称重后混合,在混合物中加入适量无水乙醇,球磨8小时;(3)球磨后的浆料烘干12小时,过80目筛,得到的粉料在160MPa的压力下压成直径11.5mm、厚约1mm的圆片,得到陶瓷坯体;(4)将上述陶瓷坯体加热至900℃时,保温80分钟,继续加热至1300℃,烧结1小时。
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