[发明专利]测量颗粒圆润度的方法无效
| 申请号： | 201010524546.9 | 申请日： | 2010-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN101995368A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | 沈浩 | 申请（专利权）人： | 安徽六国化工股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 合肥诚兴知识产权代理有限公司 34109 | 代理人： | 汤茂盛 |
| 地址： | 244023*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量颗粒圆润度的方法，设置一条在长度方向上依次为倾斜段和水平段的轨道；将标准颗粒样品一粒和随机抽取的待测颗粒样品若干粒依次放置在倾斜段轨道的同一高度处沿轨道自由流动滚动下落，待颗粒停止运动后测量其水平移动距离；求待测颗粒样品水平移动距离的加权平均值与标准颗粒样品水平移动距离的比值，即获得颗粒的圆润度值。本发明可以较精确地表征颗粒圆润度，并且测量方法简单，操作方便，测量结果一致性好，对所有颗粒产品的外观质量指标测量具有指导性。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 颗粒 圆润 方法 | ||
【主权项】：
测量颗粒圆润度的方法，其特征在于设置一条在长度方向上依次为倾斜段和水平段的轨道；其测量步骤包括：（1）将标准颗粒样品一粒和随机抽取的待测颗粒样品若干粒依次放置在倾斜段轨道的同一高度处沿轨道自由流动滚动下落，待颗粒停止运动后测量其水平移动距离；（2）求待测颗粒样品水平移动距离的加权平均值与标准颗粒样品水平移动距离的比值，即获得颗粒的圆润度值。
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