[发明专利]纳米晶体器件编程/擦除的方法无效
申请号: | 201010519468.3 | 申请日: | 2010-10-25 |
公开(公告)号: | CN102034539A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 王永;曹子贵;张博;孔蔚然 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G11C16/02 | 分类号: | G11C16/02;G11C16/34 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种纳米晶体器件编程/擦除的方法,所述纳米晶体器件的编程控制电压或者擦除控制电压幅值渐变升高。本发明的纳米晶体器件编程/擦除的方法能够提高纳米晶体器件的耐用性。 | ||
搜索关键词: | 纳米 晶体 器件 编程 擦除 方法 | ||
【主权项】:
一种纳米晶体器件编程/擦除的方法,其特征在于,所述纳米晶体器件的编程控制电压或者擦除控制电压幅值渐变升高。
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