[发明专利]薄膜晶体管液晶显示面板检测方法和设备无效
| 申请号： | 201010517868.0 | 申请日： | 2010-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN102455525A | 公开（公告）日： | 2012-05-16 |
| 发明（设计）人： | 董云;彭志龙;何祥飞 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种薄膜晶体管液晶显示面板检测方法和设备，属于液晶显示技术领域，其可解决现有的薄膜晶体管液晶显示面板检测方法难以确定不良种类、不良定位慢的问题。本发明的薄膜晶体管液晶显示面板检测方法包括：为薄膜晶体管液晶显示面板的至少一个子像素的像素电极提供第一恒定电压；在像素电极保持第一恒定电压的情况下测试子像素的显示状态。本发明的薄膜晶体管液晶显示面板检测设备包括显示控制单元，显示控制单元用于为薄膜晶体管液晶显示面板的至少一个子像素的像素电极提供第一恒定电压并至少维持第一时间，第一时间为测试子像素显示状态所需的最小时间。本发明可用于薄膜晶体管液晶显示面板的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜晶体管 液晶显示 面板 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种薄膜晶体管液晶显示面板检测方法，其特征在于，包括：为薄膜晶体管液晶显示面板的至少一个子像素的像素电极提供第一恒定电压；在所述像素电极保持所述第一恒定电压的情况下测试所述子像素的显示状态。
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