[发明专利]电路板文字漏印的检测方法有效
申请号: | 201010502910.1 | 申请日: | 2010-10-13 |
公开(公告)号: | CN102445648A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 谢寒飞;唐莺娟 | 申请(专利权)人: | 富葵精密组件(深圳)有限公司;臻鼎科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518103 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种电路板文字漏印的检测方法,包括步骤:提供待检测的电路板,所述电路板包括依次设置的导电层、防焊层,所述导电层包括第一测试垫、第二测试垫及连通于第一测试垫和第二测试垫之间的连接线,所述防焊层内具有与第一测试垫相对应的第一通孔和与第二测试垫相对应的第二通孔;提供电测装置,所述电测装置包括电测机、第一测试探针和第二测试探针;采用电测装置对第一测试垫对应的区域和第二测试垫对应的区域进行检测,根据第一测试探针和第二测试探针检测的电气导通情况判断第一测试垫区域和第二测试垫区域是否形成有绝缘的遮蔽图形,从而判定电路板是否漏印文字。 | ||
搜索关键词: | 电路板 文字 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种电路板文字漏印的检测方法,包括步骤:提供待检测的电路板,所述电路板包括依次设置的导电层、防焊层,所述导电层包括第一测试垫、第二测试垫及连接于第一测试垫和第二测试垫之间的连接线,所述第一测试垫与所述第二测试垫通过所述连接线相导通,所述防焊层内具有与第一测试垫相对应的第一通孔和与第二测试垫相对应的第二通孔,所述第一测试垫至少部分从所述第一通孔露出,所述第二测试垫至少部分从所述第二通孔露出;提供电测装置,所述电测装置包括电测机、第一测试探针和第二测试探针,所述电测机用于检测第一测试探针检测的区域和第二测试探针检测的区域之间的电气导通情况;以及将第一测试探针对第一测试垫对应的区域接触,将第二测试探针对第二测试垫对应的区域接触,当电测装置检测第一测试垫对应的区域和第二测试垫对应的区域之间为断路时,判定第一测试垫上形成有与文字同时形成的绝缘的第一遮蔽图形所述第二测试垫上形成有与文字同时形成的绝缘的第二遮蔽图形,所述防焊层表面未漏印文字,当电测装置检测第一测试垫对应的区域和第二测试垫对应的区域之间为短路时,判定第一测试垫上未形成有与文字同时形成的绝缘的第一遮蔽图形,所述第二测试垫上未形成有与文字同时形成的绝缘的第二遮蔽图形,所述防焊层表面漏印文字。
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