[发明专利]太赫兹多波长位相成像方法无效
| 申请号： | 201010291936.6 | 申请日： | 2010-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102012216A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 张岩;张亮亮;钟华;张存林 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 100037*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种太赫兹多波长位相成像方法，包括如下步骤：(1)对被成像样品进行二维光谱成像，得到所述被成像样品上每点的太赫兹时域光谱信号；(2)对所述被成像样品上各点的太赫兹时域光谱信号进行傅立叶变换，得到系统有效频率范围内所述被成像样品上各点的位相谱；(3)选取有效频率范围内的一段频率的位相图像进行线性拟合，得到拟合直线；(4)求得所述拟合直线的斜率，所得斜率与被测样品的厚度成正比，从而可以重构出被测样品的轮廓。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 波长 位相 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种太赫兹多波长位相成像方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)对被成像样品进行二维光谱成像，得到所述被成像样品上每点的太赫兹时域光谱信号；(2)对所述被成像样品上各点的太赫兹时域光谱信号进行傅立叶变换，得到系统有效频率范围内所述被成像样品上各点的位相谱；(3)选取有效频率范围内的一段频率的位相图像进行线性拟合，得到拟合直线；(4)求得所述拟合直线的斜率，所得斜率与被测样品的厚度成正比，从而可以重构出被测样品的轮廓。
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