[发明专利]太赫兹多波长位相成像方法无效
| 申请号： | 201010291936.6 | 申请日： | 2010-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN102012216A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 张岩;张亮亮;钟华;张存林 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 100037*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 赫兹 波长 位相 成像 方法 | ||
1.一种太赫兹多波长位相成像方法，其特征在于，包括如下步骤：
(1)对被成像样品进行二维光谱成像，得到所述被成像样品上每点的太赫兹时域光谱信号；
(2)对所述被成像样品上各点的太赫兹时域光谱信号进行傅立叶变换，得到系统有效频率范围内所述被成像样品上各点的位相谱；
(3)选取有效频率范围内的一段频率的位相图像进行线性拟合，得到拟合直线；
(4)求得所述拟合直线的斜率，所得斜率与被测样品的厚度成正比，从而可以重构出被测样品的轮廓。
2.如权利要求1所述的太赫兹多波长位相成像方法，其特征在于，步骤(1)中的二维光谱成像为透射式成像。
3.如权利要求1所述的太赫兹多波长位相成像方法，其特征在于，步骤(1)中的二维光谱成像为反射式成像。
4.如权利要求1所述的太赫兹多波长位相成像方法，其特征在于，步骤(1)中的二维光谱成像为二维焦平面成像。
5.如权利要求1所述的太赫兹多波长位相成像方法，其特征在于，步骤(1)中的二维光谱成像为二维逐点扫描成像。
6.如权利要求1所述的太赫兹多波长位相成像方法，其特征在于，步骤(3)中选取的一段频率为避开水蒸气吸收峰的一段频率。
7.如权利要求6所述的太赫兹多波长位相成像方法，其特征在于，所述的一段频率为0.5THz到1.5THz。
8.如权利要求1所述的太赫兹多波长位相成像方法，其特征在于，步骤(4)中得到拟合直线斜率的方法为对所述拟合直线求导。
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