[发明专利]用于借助递推分析求得对版偏差的方法和装置有效
| 申请号： | 201010284985.7 | 申请日： | 2010-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN102029783A | 公开（公告）日： | 2011-04-27 |
| 发明（设计）人： | A·豪克;S·施赖伯;U·特斯曼 | 申请（专利权）人： | 海德堡印刷机械股份公司 |
| 主分类号： | B41F33/14 | 分类号： | B41F33/14;B41F33/00;G01J3/46 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 侯鸣慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于在使用计算机(4)的情况下在多色印刷机(7)中加工时求得承印物(3)上的对版和/套准偏差的方法和装置，其中，在测量所述承印物(3)上的所述偏差时通过所述计算机(4)考虑叠印效应的影响。本发明特点在于，当在所述承印物(3)上测量时在所述计算机(4)中递推地至少考虑一个在前的和/或一个随后的印刷图像的叠印效应。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 借助 分析 求得 偏差 方法 装置 | ||
【主权项】：
用于在使用计算机(4)的情况下在多色印刷机(7)中加工时求得承印物(3)上的对版偏差和/或套准偏差的方法，其中，在测量所述承印物(3)上的所述偏差时通过所述计算机(4)考虑叠印效应的影响，其特征在于，当在所述承印物(3)上测量时在所述计算机(4)中递推地至少考虑一个在前的和/或一个随后的印刷图像的叠印效应。
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