[发明专利]用于借助递推分析求得对版偏差的方法和装置

权利要求书

1.用于在使用计算机(4)的情况下在多色印刷机(7)中加工时求得承印物(3)上的对版偏差和/或套准偏差的方法，其中，在测量所述承印物(3)上的所述偏差时通过所述计算机(4)考虑叠印效应的影响，其特征在于，当在所述承印物(3)上测量时在所述计算机(4)中递推地至少考虑一个在前的和/或一个随后的印刷图像的叠印效应。

2.根据权利要求1的方法，其特征在于，所述承印物(3)是页张形的。

3.根据权利要求1或2的方法，其特征在于，考虑多至5个在前的和随后的印刷图像的叠印效应。

4.根据上述权利要求之一的方法，其特征在于，所述计算机(4)通过递推分析将对版和套准变化与叠印效应影响分开。

5.根据权利要求4的方法，其特征在于，在该递推分析中考虑网目调在Lab颜色空间中的颜色偏移。

6.根据权利要求4或5的方法，其特征在于，所述递推分析考虑这样的时间点：在该时间点一网点在印刷机(7)中被印刷。

7.根据上述权利要求之一的方法，其特征在于，在假定从印版到承印物或者中间印刷载体的印刷转移相同的情况下，通过所述计算机(4)确定承印物(7)上的、用于检测对版偏差和/或套准偏差的测量标记(9)的线宽度。

8.根据上述权利要求之一的方法，其特征在于，所述方法在真正的印刷运行之前在印刷机(7)的起动阶段中实施。

9.用于借助计算机(4)来测量在印刷机(7)中加工时承印物(3)上的关于套准和/或对版方面的偏差的装置，其中，在测量所述承印物(3)上的所述偏差时由所述计算机(4)考虑叠印效应的影响，其特征在于，所述计算机(4)这样地设置，使得在检测所述承印物(3)上的偏差时考虑至少一个在前的和/或至少一个随后的印刷图像上的叠印效应。

10.根据权利要求9的装置，其特征在于，所述承印物(3)是页张形的。

11.根据权利要求9或10的装置，其特征在于，所述装置是用于检测对版偏差或/和套准偏差的测量仪(10)。

12.根据权利要求11的装置，其特征在于，所述测量仪(10)是手持式测量仪。

13.根据权利要求11的装置，其特征在于，所述测量仪(10)集成在一颜色测量仪中。

14.根据权利要求13的装置，其特征在于，所述颜色测量仪(10)具有用于放置页张形承印物(3)的测量台(2)和可以在测量桌(2)上方移动的测量梁(1)，该测量梁扫描所述页张形承印物(3)上的、用于检测对版偏差或/和套准偏差的测量标记(9)。

15.根据上述权利要求之一的装置，其特征在于，所述装置将从求得的偏差中计算出的校正命令传输给印刷机(7)的控制装置。