[发明专利]从在遍历轨迹时拍摄的X射线投影确定图像的方法和设备有效
| 申请号： | 201010283406.7 | 申请日： | 2010-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN102028490A | 公开（公告）日： | 2011-04-27 |
| 发明（设计）人： | 弗兰克·丹纳莱因;霍尔格·舍尔 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种借助运动的X射线源(2)和用于拍摄投影的探测器(5)确定对于对象(P)的衰减系数的方法和设备。按照本发明通过如下实现本发明：确定对于运动的X射线源(2)的轨迹；对于投影数据的滤波确定滤波线(10)；确定在滤波线上的要借助数学准则进行用于反投影的投影求导的位置(11)；确定在轨迹上的采样位置；利用X射线源(2)遍历轨迹并且对于每个采样点进行投影的拍摄；对于直接在滤波线上的每个位置(11)对轨迹数值地计算投影导数；并且借助数学准则从计算的投影导数中确定对于对象(P)的衰减系数以用于重建。本发明通过避免近似方法改进了对象的重建的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 遍历 轨迹 拍摄 射线 投影 确定 图像 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种借助运动的X射线源(2)和用于拍摄投影的探测器(5)确定对于对象(P)的衰减系数的方法，包括步骤：‑确定对于该运动的X射线源(2)的轨迹，‑对于投影数据的滤波确定滤波线(10)，‑确定在所述滤波线上的要借助数学准则进行用于反投影的投影求导的位置(11)，‑确定在所述轨迹上的采样位置，‑利用所述X射线源(2)遍历所述轨迹，并且对于每个采样点进行投影的拍摄，其中，通过由探测器元件(6)拍摄的射线强度值给出投影，‑借助所记录的射线强度值对于在滤波线上的每个位置(11)对轨迹直接计算投影导数，并且‑借助数学准则从所计算的投影导数中确定对于对象(P)的衰减系数以便用于重建。
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