[发明专利]一种扫描成像光谱仪光路结构无效
申请号: | 201010271621.5 | 申请日: | 2010-09-03 |
公开(公告)号: | CN101975610A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | 唐义;吴雁;刘健鹏;倪国强;张止戈 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种扫描成像光谱仪光路结构,包括扫描反射镜(1),对来自目标的入射光线进行反射;光阑(2),选择一定视场角内的光进入光谱仪;望远物镜(3),将通过光阑的光聚焦至狭缝(4);准直物镜(5),将通过狭缝的光反射到光栅(6)上;光栅(6),进行分光;聚焦物镜(7),将分光后的光聚焦至探测器(8)的光敏面处进行分光谱成像。经过扫描反射镜(1)在光谱维的扫描可以获得二维空间的光谱数据。光谱仪采用全反射式光学元件,所有反射元件均镀高反射率膜。该结构特点在于望远成像光路与分光成像光路空间共享,在不增大系统体积的基础上,减小了光学元件之间的离轴角,极大的提高了光谱仪的光谱分辨力和成像分辨力。 | ||
搜索关键词: | 一种 扫描 成像 光谱仪 结构 | ||
【主权项】:
一种扫描成像光谱仪光路结构,包括:扫描反射镜,对来自目标的入射光线进行反射,并进行一维成像扫描;光阑,用于接收扫描反射镜的反射光,并选择一定视场角范围内的光进入光谱仪;望远物镜,将来自光阑的光聚焦到狭缝上,实现一次成像;狭缝,限制进入光谱仪分光系统的光束大小,其宽度决定光谱仪的光谱分辨力,其高度决定光谱仪的成像维视场角,即单幅光谱图像的成像范围;准直物镜,将通过狭缝的光反射到光栅上;光栅,进行分光;聚焦物镜,将分光后的光聚焦至探测器的光敏面处进行分光光谱成像;探测器,二维阵列探测器,采集光谱图像数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学,未经北京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010271621.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。