[发明专利]一种分光光度计的全波段波长校正方法有效
| 申请号： | 201010268956.1 | 申请日： | 2010-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN102384785A | 公开（公告）日： | 2012-03-21 |
| 发明（设计）人： | 王悦;王铁军;李维森 | 申请（专利权）人： | 北京普源精电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42;G01N21/31 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102206 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种分光光度计的全波段波长校正方法，用于分光光度计，所述分光光度计包括：一个提供复合光的光源单元，一个用于依据位移量产生单色光的单色器，一个用于设置被测样品，使所述单色光射入被测样品，产生测量结果的测量单元，一个依据所述测量结果产生所述位移量的控制单元，所述方法包括如下步骤：加入具有多个特征峰值的标准物质作为被测样品，获取标准物质的测量结果，依据所述测量结果中的两个相邻的特征峰值所对应的单色光的波长和位移量，设定该两个峰值之间的单色光的波长所对应的位移量。本发明能够在复合光全波段范围内将波长分段进行校正，每个波段都有相应的波长校正系数，有效地提高了波长准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分光 光度计 波段 波长 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种分光光度计的全波段波长校正方法，用于分光光度计，所述分光光度计包括：一个提供复合光的光源单元，一个用于依据位移量产生单色光的单色器，一个用于设置被测样品，使所述单色光射入被测样品，产生测量结果的测量单元，一个依据所述测量结果产生所述位移量的控制单元，其特征在于，包括如下步骤：加入具有多个特征峰值的标准物质作为被测样品，获取标准物质的测量结果，依据所述测量结果中的两个相邻的特征峰值所对应的单色光的波长和位移量，设定该两个峰值之间的单色光的波长所对应的位移量。
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