[发明专利]降压用耗尽型N型横向双扩散金属氧化物半导体管有效

专利信息
申请号: 201010265890.0 申请日: 2010-08-27
公开(公告)号: CN101969072A 公开(公告)日: 2011-02-09
发明(设计)人: 孙伟锋;钱钦松;朱奎英;陆生礼;时龙兴 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 黄雪兰
地址: 214135 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种降压用耗尽型N型横向双扩散金属氧化物半导体管,包括:P型半导体衬底,在P型半导体衬底上设置有N型埋层,P型阱区,N型阱区,N型漂移区,在P型阱区表面靠左侧上设置有P型接触区、N型源区和N型沟道注入区,P型阱区内设有P型注入区,且P型注入区的左端边界位于N型源区的下方,P型注入区的右端边界与漏端N型漂移区相邻。P型接触区和多晶硅电极通过互连金属连线相连接作为栅极。该结构大幅度的降低了N型耗尽型横向双扩散金属氧化物半导体管的阈值电压。在电路应用中漏极金属连线直接连接至高压电源,栅极金属连线接地,源极金属连线直接连接低压电路,为低压电路提供低压电源。
搜索关键词: 降压 耗尽 横向 扩散 金属 氧化物 半导体
【主权项】:
一种降压用耗尽型N型横向双扩散金属氧化物半导体管,包括:P型半导体衬底(1),在P型半导体衬底(1)上设置有N型埋层(2),在N型埋层(2)上设置有P型阱区(3),在P型阱区(3)的左右两侧分别设有构成PN结隔离的第一N型阱区(4)及第二N型阱区(19),在第一N型阱区(4)上设有第一N型欧姆接触区(21),在第二N型阱区(19)上设有第二N型欧姆接触区(22),在P型阱区(3)表面右侧设置有漏端N型漂移区(6),在漏端N型漂移区(6)表面上设置有N型漏区(10),在P型阱区(3)表面左侧设置有P型接触区(7)、N型源区(8)和N型沟道注入区(9),在N型沟道注入区(9)上方设置有栅氧化层(12),在P型阱区(3)、第一N型阱区(41)及第二N型阱区(42)的表面的P型接触区(7)、N型源区(8)、N型沟道注入区(9)、N型漏区(10)、第一N型欧姆接触区(21)和第二N型欧姆接触区(22)之外区域设置有场氧化层(11),在栅氧化层(12)的上方设置有多晶硅电极(13)且所述多晶硅电极(13)延伸至和栅氧化层(12)右侧相邻的场氧化层上方,在P型接触区(7)和多晶硅电极(13)上方布有栅极金属连线(14),在N型漏区(10)上方有漏极金属连线(17),在N型源区(8)上方有源极金属连线(16),在第一N型欧姆接触区(21)上连接有第一金属电极连线(18),在第二N型欧姆接触区(22)上连接有第二金属电极连线(20),在P型接触区(7)、N型源区(8)、N型漏区(10)、场氧化层(11)、多晶硅电极(13)、第一N型欧姆接触区(21)和第二N型欧姆接触区(22)的表面的栅极金属连线(14)、源极金属连线(16)、漏极金属连线(17)、第一金属电极连线(18)和第二金属电极连线(20)之外区域设置有介质隔离氧化层(15),其特征在于在P型阱区(3)内设有P型注入区(5),且P型注入区(5)的左端边界位于N型源区(8)的下方,P型注入区(5)的右端边界与漏端N型漂移区(6)相邻。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010265890.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top