[发明专利]恶劣环境传感器系统和检测方法有效

专利信息
申请号: 201010246474.6 申请日: 2010-07-28
公开(公告)号: CN101986126A 公开(公告)日: 2011-03-16
发明(设计)人: E·伯克坎;C·U·哈德维科 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01M19/00 分类号: G01M19/00;G01D21/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 朱海煜;徐予红
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供一种用于测量恶劣环境(58、88)中物体的多个工作参数的系统(30、50)。该系统(30、50)包括第一能量收发器系统(31、52),配置成收发能量信号。该系统(30、50)还包括耦合到第一能量收发器系统(31、52)的收发的调制对象。该系统(30、50)还包括至少部分地设置在物体上且能够被第一能量收发器系统查询(31、52)的第二能量收发器系统(33、56)。第二能量收发器系统(33、56、80)还包括传感系统(82)。该系统还包括耦合到第一能量收发器系统(31、52)的处理器(36)。处理器(36)配置成基于收发的调制对象(54)来确定恶劣环境(58、88)中物体的多个工作参数。
搜索关键词: 恶劣 环境 传感器 系统 检测 方法
【主权项】:
一种用于测量恶劣环境(58、88)中物体的多个工作参数的系统(30、50),所述系统(30、50)包括:配置成收发能量信号的第一能量收发器系统(31、52);耦合到所述第一收发器系统(31、52)的收发的调制对象(54);至少部分地设置在所述物体上且能够被所述第一收发器系统(31、52)查询的第二能量收发器系统(33、56、80),其中所述第二收发器系统(33、56、80)包括传感系统(82);以及耦合到所述第一收发器系统(31、52)的处理器(36),所述处理器(36、68)配置成基于所述收发的调制对象(54)来确定所述恶劣环境(58、88)中所述物体的所述多个工作参数。
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