[发明专利]用于DDR控制器中DQS延迟的相位校准方法及装置有效
| 申请号： | 201010245341.7 | 申请日： | 2010-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN102347081A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 史公正 | 申请（专利权）人： | 联芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 200233 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于DDR控制器的DQS延迟相位校准方法及装置，包括：依据DQS信号不同级延迟后的触发信号对DDR数据DQ进行采样；将采样获取的数据DQ按字节与预设自检数据进行比较，并经过延迟两拍后获取最小边界延迟参数与最大边界延迟参数；将该最大边界延迟参数与最小边界延迟参数的平均值赋予DQS选择信号；依据该DQS选择信号输出时钟延迟DQS信号，得到处于有效数据窗中央的DQS信号。本发明采用延迟参数判定单元和延迟参数输出电路中的硬件逻辑实现对DQS延迟相位校准，利用延迟参数判定单元通过数据筛选的方法将延迟后的DQS精确的落在有效数据窗中央，从而增强了数据采样的稳定性、精确性和抗干扰性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 ddr 控制器 dqs 延迟 相位 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于双倍速率同步动态随机存储器DDR控制器中双向数据滤波信号DQS延迟的相位校准方法，其特征在于，包括：依据DQS信号不同级延迟后的触发信号对DDR数据DQ进行采样；将采样获取的所述数据DQ按字节与预设自检数据进行比较，并经过延迟两拍后获取最小边界延迟参数与最大边界延迟参数；将所述最大边界延迟参数与最小边界延迟参数的平均值赋予DQS选择信号DQS_SEL；依据所述DQS_SEL信号输出时钟延迟DQS信号，得到处于有效数据窗中央的DQS信号。
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