[发明专利]一种用于分析高纯度非腐蚀性气体中杂质的通用装置和方法无效
申请号: | 201010229285.8 | 申请日: | 2010-07-16 |
公开(公告)号: | CN101915811A | 公开(公告)日: | 2010-12-15 |
发明(设计)人: | 薛翔 | 申请(专利权)人: | 上海炫一电子科技有限公司 |
主分类号: | G01N30/02 | 分类号: | G01N30/02;G01N30/20 |
代理公司: | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人: | 吴瑾瑜 |
地址: | 200241 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及气体的检测装置和方法,公开了一种分析检测高纯度非腐蚀性气体中杂质的通用装置和方法,通过阀门的切换,改变气体流向,来进行分离检测。本发明结构简单,分析过程简便快捷,可以进行在线检测;杂质组分分离效果好;同一装置可完成对多种高纯度非腐蚀性气体的分析需求。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 分析 纯度 腐蚀性 气体 杂质 通用 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于分析高纯度非腐蚀性气体中杂质的通用装置,其特征在于,结构包括:杂质组分分离气路、氦离子化检测器和氧气预分离气路;杂质组分分离气路包括第一路辅助载气稳流系统、第二路辅助载气稳流系统、样品气体入口、样品气体出口、排气出口A、带吹扫六通阀、样品环A、带吹扫四通阀A、带吹扫四通阀B、分析色谱柱A、分析色谱柱B、分析色谱柱C和零死体积三通阀;其中第一路辅助载气稳流系统、样品气体入口、样品气体出口和样品环A的两端及分析色谱柱A的入口分别连接到带吹扫六通阀;分析色谱柱A的出口、分析色谱柱B的入口、气阻A分别连接到带吹扫四通阀A;气阻A与零死体积三通阀、气阻B和氦离子检测器依次相连;分析色谱柱B的出口、分析色谱柱C的入口、第二路辅助载气稳流系统和排气出口A分别连接到吹扫四通阀B;分析色谱柱C的出口与零死体积三通阀的另一端连接;氧气预分离气路包括带吹扫十通阀、第三路辅助载气稳流系统、第四路辅助载气稳流系统、样品环B、氧吸附柱、分析色谱柱E和排气出口B;氧吸附柱的出口与和分析色谱柱E的入口连接在一起,氧吸附柱的入口、分析色谱柱E的出口、第三路辅助载气稳流系统、第四路辅助载气稳流系统、排气出口B、氧气入口、氧气出口以及样品环B的两端及分别连接到带吹扫十通阀;带吹扫十通阀与带吹扫四通阀A连接。
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